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更新 2026·06·17
概念 技术 / 术语

CMP

化学机械抛光 · Chemical Mechanical Planarization · Chemical Mechanical Polishing

2. HBM 多层堆叠关键:每层 DRAM 晶圆减薄 + CMP 平坦化 + TSV 互连 3. 先进封装 CoWoS 必备:硅中介层 TSV 后 CMP、RDL 多层间 CMP 4. 后段铜互连:Cu / Co / Ru 等金属 CMP 是 BEOL 工艺核心 5. STI 浅沟槽隔离:前段最先一道 CMP,决定器件均匀性

CMP CONCEPT · 概念
首次提出
1980s
关键参与方
[[Applied Materials]] · [[荏原]] · [[华海清科]] · [[杭州众硅]]
反向引用
13 处 · 来自 10
归属 半导体设备CMP平坦化第二层

CMP(Chemical Mechanical Planarization,化学机械抛光)

先进制程多达 20+ 次抛光。化学腐蚀 + 机械研磨双重作用实现晶圆表面纳米级平坦化。Applied Materials 全球第一(份额 40%+),中国 华海清科 打破垄断,杭州众硅 2026 被 中微公司 64.69% 收购(据2-10)。

是什么

  • 化学机械抛光(Chemical Mechanical Polishing/Planarization):通过抛光垫机械摩擦 + 抛光液化学反应,将晶圆表面磨平
  • 唯一能实现全局平坦化的工艺(local + global planarity)
  • 三大消耗品:
    • CMP 抛光液(Slurry) — 含纳米颗粒 + 化学试剂
    • CMP 抛光垫(Pad) — 聚氨酯多孔结构
    • 修整器(Conditioner) — 金刚石盘
  • 工艺类型:氧化硅 CMP / 钨 CMP / 铜 CMP / 钴 CMP / STI CMP / ILD CMP 等

在 AI 产业链中的角色

  1. 先进制程必备:3nm 节点 CMP 工序 20+ 次,每多一个金属层就多一次 CMP
  2. HBM 多层堆叠关键:每层 DRAM 晶圆减薄 + CMP 平坦化 + TSV 互连
  3. 先进封装 CoWoS 必备:硅中介层 TSV 后 CMP、RDL 多层间 CMP
  4. 后段铜互连:Cu / Co / Ru 等金属 CMP 是 BEOL 工艺核心
  5. STI 浅沟槽隔离:前段最先一道 CMP,决定器件均匀性

主要玩家

设备(全球)

厂商 份额 强项
Applied Materials 40%+ Reflexion / Mirra 系列,全工艺覆盖
荏原 Ebara 30%+ F-REX 系列,日本第一
其他 30% 多家

设备(中国)

材料(全球与中国)

关键参数

  • 表面粗糙度:<1nm RMS
  • 全局平坦度:<100nm(300mm 晶圆)
  • 速率:~3000 Å/min(氧化硅)
  • 选择比:可调,氧化硅:氮化硅 50:1
  • 一台设备价格:~$2-5M

关键技术挑战

  1. 碟形效应(Dishing) — 大面积铜区域过度抛光
  2. 侵蚀(Erosion) — 致密图案区域整体下凹
  3. 划伤(Scratch) — 颗粒造成的缺陷
  4. 缺陷颗粒清洗 — Post-CMP 清洗与 CMP 同等重要
  5. 新材料 CMP — Co / Ru / 低 K 介质 / III-V 等先进材料 CMP 配方

中国国产化

相关概念

  • ALE / ALD — 与 CMP 协同的先进工艺
  • CoWoS / HBM — 高度依赖 CMP 的下游应用
  • 12英寸硅片 — CMP 抛光的标准载体

关键来源

∈ belongs_to::2-10-半导体设备与核心材料