DUV光刻(深紫外光刻)
是什么
- 深紫外(Deep Ultraviolet, DUV)光刻:使用 193nm(ArF 准分子激光)或 248nm(KrF)波长光源
- 主要两种工艺:
- ArF 干式(193nm)— 适用 65nm-45nm
- ArF 浸没式(193i)— 镜头与晶圆间填水,等效波长缩短到 134nm,支撑 28nm-7nm
- KrF(248nm)适用 250nm-130nm 老节点
在 AI 产业链中的角色
- 成熟制程主力:28nm 及以下所有节点的核心工具
- 中国 AI 芯片"国产线"必备:中芯国际 N+1/N+2(等效 7nm)通过 DUV 多重曝光实现
- 多重曝光技术:SADP / SAQP(双重/四重自对准)+ DUV 是中国突破 7nm 的主要路径
- EUV 禁运下的唯一选择:对华 EUV 禁运,DUV 浸没式仍可向中国出口(但 1980Di 起部分管控)
主要玩家
- 设备三强:
- 中国设备:上海微电子 SMEE — SSA/800 达 28nm(ArF 干式起步,浸没式攻关中)
- 关键子部件:
关键参数
| 节点 | 工艺 | 波长 | 量产时间 | 国产可及 |
|---|---|---|---|---|
| 250nm-130nm | KrF | 248nm | 1995-2003 | ✅ |
| 90nm-45nm | ArF 干式 | 193nm | 2002-2009 | ✅ (SSA/800) |
| 28nm-22nm | ArF 浸没式 | 193i | 2010+ | 攻关中 |
| 14nm-7nm | ArF 浸没式 + 多重曝光 | 193i | 2014+ | ✅ (中芯 N+2) |
多重曝光(DUV 突破 EUV 禁运的钥匙)
- SADP(Self-Aligned Double Patterning) — 自对准双重曝光,14nm 主力
- SAQP(Self-Aligned Quadruple Patterning) — 四重曝光,7nm 等效
- 代价:步骤数从 1 步增至 4 步,良率下降、成本翻倍
- 国产替代典型:中芯国际 N+2 工艺据传通过 DUV+SAQP 实现 7nm 等效
中国突破点
- 上海微电子 SSA/800 — 28nm ArF 干式(量产)
- 下一步:90nm 浸没式工艺攻关 → 28nm 浸没式 → 14nm 多重曝光
- 国产光刻机零部件配套:浸没系统、双工件台、对准系统
相关概念
- EUV光刻 — 下一代,13.5nm 波长,先进节点必备
- High-NA EUV — 下下代,NA 0.55
- ArF光刻胶 — DUV 浸没式核心配套材料
- ALE / CMP — 配合多重曝光的关键工艺
关键来源
所属子板块半导体设备与核心材料