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更新 2026·06·17
概念 技术 / 术语

PVD

物理气相沉积 · Physical Vapor Deposition · Sputtering · 溅射

2. AI 芯片 BEOL:3nm 以下 Cu 互连阻挡层 / 种子层需要先进 PVD(如 RF PVD) 3. HBM TSV 关键工艺:TSV 内壁阻挡 + 种子层 PVD 沉积 4. 存储器件电极:DRAM 电容器、3D NAND 字线 / 位线 5. 先进封装 RDL:再分布层 + bump 下金属层

PVD CONCEPT · 概念
首次提出
1970s
关键参与方
[[Applied Materials]] · [[东京电子]] · [[北方华创]]
反向引用
9 处 · 来自 7
归属 半导体设备薄膜沉积PVD第二层

PVD(Physical Vapor Deposition,物理气相沉积)

金属互连主力工艺Applied Materials 全球 PVD 份额 80%+ 近乎独占。中国 北方华创 PVD 是其平台核心,国内最先突破并量产。配套靶材龙头为 江丰电子(5N-6N)(据2-10)。

是什么

  • 物理气相沉积(Physical Vapor Deposition):通过物理过程(蒸发/溅射)将固态靶材原子化后沉积在晶圆表面
  • CVD / ALD 的区别:纯物理过程,无化学反应,靶材种类决定膜种类
  • 主要类型:
    • 溅射(Sputtering) — 主流,Ar 离子轰击靶材
    • 蒸发(Evaporation) — 老节点 / 化合物半导体
    • 离子化金属 PVD(IMP / IPVD) — 高深宽比孔填充

在 AI 产业链中的角色

  1. 金属互连必备:Cu / Ta / TaN / Ti / TiN 阻挡层 + 种子层全部 PVD 沉积
  2. AI 芯片 BEOL:3nm 以下 Cu 互连阻挡层 / 种子层需要先进 PVD(如 RF PVD)
  3. HBM TSV 关键工艺:TSV 内壁阻挡 + 种子层 PVD 沉积
  4. 存储器件电极:DRAM 电容器、3D NAND 字线 / 位线
  5. 先进封装 RDL:再分布层 + bump 下金属层

主要玩家

国际

  • Applied Materials全球 PVD 份额 80%+,Endura 平台是行业标准
  • 东京电子 — Trias-CVD/PVD 集成
  • Ulvac 日本 — 中端 PVD + 显示
  • Singulus 德国 — 化合物半导体 PVD

中国

关键溅射靶材

  • 铝(Al) — 老节点互连
  • 铜(Cu) — 主流互连
  • 钽(Ta)/ 氮化钽(TaN) — Cu 互连阻挡层
  • 钛(Ti)/ 氮化钛(TiN) — W 接触阻挡层
  • 钴(Co)/ 钌(Ru) — 先进节点互连 + 种子层
  • 铂(Pt)/ 铱(Ir) — 电容器电极
  • 靶材纯度:5N-6N(99.999%-99.9999%)

关键参数

  • 沉积速率:10-100 nm/min
  • 均匀性:300mm 晶圆 <2%
  • 颗粒:<0.05 ea/wafer
  • 共形性:30-80%(视线沉积,不如 CVD/ALD)
  • 工艺温度:室温-400°C(远低于 CVD)

中国国产化

设备

靶材

相关概念

  • CVD — 化学气相沉积,与 PVD 并列
  • ALD — 更精细的原子层沉积
  • 溅射靶材 / 高纯金属 — PVD 配套关键材料
  • CMP — PVD 后 Cu 互连必备的平坦化工艺

关键来源

∈ belongs_to::2-10-半导体设备与核心材料